失效分析FA是什么？失效分析项目全解析
发布时间：2026-11-03 | 阅读约6分钟
产品出了问题，到底是设计缺陷、制造工艺问题，还是使用不当？失效分析（FA）就是帮你找到根因。广州番禺广电计量失效分析实验室余工给大家讲清楚。
一、什么是失效分析？
失效分析（FA）是对已失效器件进行的一种事后检查。根据需要，采用电测试以及各种先进的物理、金相和化学分析技术，并结合元器件失效前后的具体情况及有关技术文件进行分析，以验证所报告的失效，确定元器件的失效模式、失效机理和造成失效的原因。
全面系统的失效分析可以确定失效的原因，对于器件设计、制造工艺、试验或应用的改进具有指导作用。采取相应的纠正措施消除失效模式或机理产生的原因，从而实现器件以及装备整体可靠性的提高。
二、为什么要做失效分析？
通过失效分析可以发现：
- 固有质量问题：元器件本身设计或制造缺陷
- 使用质量问题：因不按规定条件使用而失效
通过向有关方面反馈，促使责任方采取纠正措施，消除所报告的失效模式或机理产生的原因，防止再次出现。失效可能发生在产品寿命周期的各个阶段，涉及研发设计、来料检验、加工组装、测试筛选、客户端使用等环节。
三、失效分析基本项目
| 序号 | 分析项目 |
|---|---|
| 1 | 外部检查 |
| 2 | 电参数测试 |
| 3 | 非功能测试 |
| 4 | X射线照相 X-RAY、X-CT 射线分析（3D） |
| 5 | PIND（粒子碰撞噪声检测） |
| 6 | 密封性检查 |
| 7 | 声学扫描显微镜分析（SAM/C-SAM）、TEM（透射电子显微镜） |
| 8 | 内部检查 |
| 9 | 剖面金相分析 |
| 10 | 键合强度测试 |
| 11 | 剪切强度测试 |
| 12 | 扫描电子显微镜分析（SEM）、SEM&EDS |
| 13 | 粗检漏、细检漏 |
| 14 | 内部气氛分析 |
| 15 | 切片分析 |
| 16 | 染色试验 |
| 17 | FIB（聚焦离子束） |
| 18 | ESD测试 |
| 19 | Latch-up 测试（电源端） |
| 20 | 芯片剪切力、键合拉力、推球 |
| 21 | EMMI（光发射显微镜） |
| 22 | 红外热成像系统 |
| 23 | TOF-SIMS（二次离子质谱分析） |
四、主要分析技术分类
| 技术类别 | 包含技术 |
|---|---|
| 形貌分析 | 体视显微镜、金相显微镜、X射线透视、声学扫描显微镜、扫描电镜、透射电镜、聚焦离子束 |
| 成分检测 | X射线能谱EDX、俄歇能谱AES、二次离子质谱SIMS、光谱、色谱、质谱 |
| 电分析 | I-V曲线、半导体参数、LCR参数、集成电路参数、频谱分析、ESD参数、电子探针、机械探针、绝缘耐压、继电器特性 |
| 开封制样 | 化学开封、机械开封、等离子刻蚀、反应离子刻蚀、化学腐蚀、切片 |
| 缺陷定位 | 液晶热点、红外热像、电压衬度、光发射显微像、OBIRCH |
五、常见失效分析产品
PCBA、高光板、雨刮器、汽车线束、汽车面板、汽车导航、通信模块、LED、光模块等电子/汽车电子产品。
六、广州番禺失效分析实验室
广电计量广州番禺实验室，具备CNAS、CMA资质，拥有SEM、EDS、X-RAY、SAM、EMMI、FIB、TOF-SIMS等全套失效分析设备，提供从外部检查到内部剖析、从电参数测试到缺陷定位的完整失效分析服务。
余工 18218480006（微信同号），发失效样品信息，24小时出分析方案。地址：广州市番禺区石碁镇创运路8号。